电子制造可靠性提升与失效分析技术

【主办单位】中国电子标准协会http://www.ways.org.cn

【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司

【咨询热线】0755-26506757 13798472936 李先生 彭小姐

【报名邮箱】martin@ways.org.cn

【服务Q Q】751959468 52630255

【温馨提示】 本课程可引进到企业内部培训,欢迎来电预约!

【时间和地点】  2020年12月19日~2020年12月20日  广东深圳市
  

【课程费用】3600元 (含资料费、午餐、茶点、发票)

【招生对象】

微观电子工艺不断发展,对电子材料与零部件产品的可靠性提出了新的要求,如何提升产品的可靠性成为企业极度关注的焦点。产品失效是发生在产品寿命周期的各个阶段,对装备或元器件在使用过程中发生的各种形式失效现象的特征及规律进行分析研究,有利于提高产品质量,在技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。

课题大纲:

1.微电子的高精细切片制作流程讲解

2.印制线路板的检验及案例分享

3.电子组件的检验及案例分享

4.LCD屏的检验及案例分享

 

简介:切片技术在关键工序的质量控制中发挥着越来越大的作用,本次课题主要从印制线路板的检验、电子组件的检验、LCD屏的检验等方面展开分析,通过相关的案例讲解,帮助企业深入了解切片技术在电子产品质量评价中的应用。

 

9:50—10:30   现货购买物料风险评估与拦截 

课题大纲:

1.现货物料的诠释

2.现货物料的风险

3.超期物料风险评估

4.器件真伪鉴定

5.真伪鉴定与DPA关系

 

简介:现货市场购买物料一般存在以下几个风险问题:1、物料缺货,原厂无法提供,只能从现货市场购买,购买价格高;2、很多是超期物料,存放时间较长,性能可能会退化;3、如果供应商存放环境管控不好,会存在严重受潮,焊点腐蚀情况,影响后期的焊接加工质量;4、存在假货的风险。如何对这些风险进行规避?如何选购到符合质量要求的器件产品?这些我们都将进行深入解析。

 

10:30—10:50       茶歇

 

10:50—11:30   工业CT在电子产品中的应用

 

课题大纲:

4. 高精度CT技术原理与应用介绍

5.CT扫描技术在电子领域中的应用

6.CT扫描典型应用案例深度剖析

简介: CT扫描作为一种无损检测手段,可在不破坏电子元组件的情况下,不受周围细节特征的遮挡,直接检测获得其内部的结构、组成、材质及缺损状况。通过介绍CT技术在电子组件相关产品的应用,并对典型案例进行剖析,帮助企业深入了解CT扫描技术在优化产品制作工艺,降低成本,提高产品寿命,提升产品性能等方面的作用!

 

13:30—14:10  显微分析在电子行业的最新应用介绍 

 

课题大纲:

4.电镜的原理介绍;

5.电镜在电子相关领域最新技术介绍;

6.常用的应用领域介绍及展望

 

简介:介绍了电子显微的原理和电镜的结构及特点,从电子行业及相关领域的应用方向为出发点,讲解了从外观形貌到内部结构解析,以及元素分析的最新应用,对产品的失效分析提供了较全面的解决方案,最后对显微分析的未来发展进行了展望。

 

14:10—14:50   基于失效物理的可靠性提升

课题大纲:

5.传统可靠性技术体系概述及存在问题

6.基于失效物理的可靠性技术体系概述、意义及思路

7.失效物理在电子组装质量优化中的作用及应对对策

8.相关典型案例的分享与解析

 

简介:失效物理(failure physics)研究产品在各种应力下发生失效的内在原因及其机理的科学,又称可靠性物理。相较于传统可靠性技术而言,对失效物理可靠性技术相关体系、思路和方法进行阐释,并通过典型的案例熟悉该可靠性技术的实际应用,有利于更好的针对产品失效问题进行分析,获得根本原因并解决。

 

14:50—15:10       茶歇

 

15:10—15:50   FPC常见电子元器件典型失效研讨

课题大纲:

6.失效分析的作用

7.MLCC贴片电容的典型失效

8.贴片电阻的典型失效

9.WLCSP芯片的典型失效

10.模组的典型失效

 

简介:对FPC常见电子元器件的失效进行了分别的介绍和分析,如:MLCC贴片电容、贴片电阻、WLCSP芯片、模组等,而后对半导体器件(分立器件 、IC)的失效机理进行了讲解,并针对性的精选典型案例,进行分享和剖析。

 

15:50—16:30   先进材料表征技术——表面成分分析方法XPS, AES, TOF-SIMS的技术能力和特点以及在材料表征中的应用

 

课题大纲:

4.X射线光电子能谱仪(XPS)的基本原理和主要应用

5.俄歇电子能谱仪(AES)的基本原理和主要应用

6.飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的基本原理和主要应用

 

简介:针对先进材料表征技术方法中的表面成分分析技术进行了全面介绍,从X射线光电子能谱仪(XPS)、俄歇电子能谱仪(AES)、飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的基本原理和实际应用进行讲解,并列举案例深度分析,更为清晰的了解该技术。

老师介绍


培训报名表

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住宿

协助安排住宿:□ □否

入住时间: □( )天

入住标准:□标准双人间( )间 □标准单人间( )间

付款方式

□现金  □转帐




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