电子制造可靠性提升与失效分析技术

  开课信息:   课程编号:KC21691  
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招生对象
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课程内容
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<p>微观电子工艺不断发展,对电子材料与零部件产品的<a href="http://www.ways.org.cn/">可靠性</a>提出了新的要求,如何提升产品的<a href="http://www.ways.org.cn/">可靠性</a>成为企业极度关注的焦点。产品失效是发生在产品<a href="http://www.ways.org.cn/">寿命</a>周期的各个阶段,对装备或<a href="http://www.ways.org.cn/">元器件</a>在使用过程中发生的各种形式失效现象的特征及规律进行分析研究,有利于提高产品<a href="http://www.ways.org.cn/">质量</a>,在技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。</p>

<p><strong>课题大纲:</strong></p>

<p>1.微电子的高精细切片制作流程讲解</p>

<p>2.印制线路板的检验及案例分享</p>

<p>3.电子组件的检验及案例分享</p>

<p>4.LCD屏的检验及案例分享</p>

<p> </p>

<p><strong>简介:</strong>切片技术在关键工序的质量控制中发挥着越来越大的作用,本次课题主要从印制线路板的检验、电子组件的检验、LCD屏的检验等方面展开分析,通过相关的案例讲解,帮助企业深入了解切片技术在电子产品质量评价中的应用。</p>

<p> </p>

<p>◆<strong>9:50—10:30   现货购买物料风险评估与拦截 </strong></p>

<p><strong>课题大纲:</strong></p>

<p>1.现货物料的诠释</p>

<p>2.现货物料的风险</p>

<p>3.超期物料风险评估</p>

<p>4.器件真伪鉴定</p>

<p>5.真伪鉴定与DPA关系</p>

<p> </p>

<p><strong>简介:</strong>现货市场购买物料一般存在以下几个风险问题:1、物料缺货,原厂无法提供,只能从现货市场购买,购买价格高;2、很多是超期物料,存放时间较长,性能可能会退化;3、如果供应商存放环境管控不好,会存在严重受潮,焊点腐蚀情况,影响后期的焊接加工质量;4、存在假货的风险。如何对这些风险进行规避?如何选购到符合质量要求的器件产品?这些我们都将进行深入解析。</p>

<p> </p>

<p>◆<strong>10:30—10:50       茶歇</strong></p>

<p> </p>

<p>◆<strong>10:50—11:30   工业CT在电子产品中的应用</strong></p>

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<p><strong>课题大纲:</strong></p>

<p>4. 高精度CT技术原理与应用介绍</p>

<p>5.CT扫描技术在电子领域中的应用</p>

<p>6.CT扫描典型应用案例深度剖析</p>

<p><strong>简介: </strong>CT扫描作为一种无损检测手段,可在不破坏电子元组件的情况下,不受周围细节特征的遮挡,直接检测获得其内部的结构、组成、材质及缺损状况。通过介绍CT技术在电子组件相关产品的应用,并对典型案例进行剖析,帮助企业深入了解CT扫描技术在优化产品制作工艺,降低成本,提高产品寿命,提升产品性能等方面的作用!</p>

<p> </p>

<p>◆<strong>13:30—14:10  显微分析在电子行业的最新应用介绍 </strong></p>

<p> </p>

<p><strong>课题大纲:</strong></p>

<p>4.电镜的原理介绍;</p>

<p>5.电镜在电子相关领域最新技术介绍;</p>

<p>6.常用的应用领域介绍及展望</p>

<p> </p>

<p><strong>简介:</strong>介绍了电子显微的原理和电镜的结构及特点,从电子行业及相关领域的应用方向为出发点,讲解了从外观形貌到内部结构解析,以及元素分析的最新应用,对产品的失效分析提供了较全面的解决方案,最后对显微分析的未来发展进行了展望。</p>

<p> </p>

<p>◆<strong>14:10—14:50   基于失效物理的可靠性提升</strong></p>

<p><strong>课题大纲:</strong></p>

<p>5.传统<a href="http://www.ways.org.cn/">可靠性</a>技术体系概述及存在问题</p>

<p>6.基于失效物理的<a href="http://www.ways.org.cn/">可靠性</a>技术体系概述、意义及思路</p>

<p>7.失效物理在电子组装质量优化中的作用及应对对策</p>

<p>8.相关典型案例的分享与解析</p>

<p> </p>

<p>简介:失效物理(failure physics)研究产品在各种应力下发生失效的内在原因及其机理的科学,又称<a href="http://www.ways.org.cn/">可靠性</a>物理。相较于传统可靠性技术而言,对失效物理可靠性技术相关体系、思路和方法进行阐释,并通过典型的案例熟悉该可靠性技术的实际应用,有利于更好的针对产品失效问题进行分析,获得根本原因并解决。</p>

<p> </p>

<p>◆<strong>14:50—15:10       茶歇</strong></p>

<p> </p>

<p>◆<strong>15:10—15:50   FPC常见电子元器件典型失效研讨</strong></p>

<p><strong>课题大纲:</strong></p>

<p>6.<a href="http://www.ways.org.cn/">失效分析</a>的作用</p>

<p>7.MLCC贴片电容的典型失效</p>

<p>8.贴片电阻的典型失效</p>

<p>9.WLCSP芯片的典型失效</p>

<p>10.模组的典型失效</p>

<p> </p>

<p><strong>简介:</strong>对FPC常见电子元器件的失效进行了分别的介绍和分析,如:MLCC贴片电容、贴片电阻、WLCSP芯片、模组等,而后对半导体器件(分立器件 、IC)的失效机理进行了讲解,并针对性的精选典型案例,进行分享和剖析。</p>

<p> </p>

<p>◆<strong>15:50—16:30   先进材料表征技术——表面成分分析方法XPS, AES, TOF-SIMS的技术能力和特点以及在材料表征中的应用</strong></p>

<p> </p>

<p><strong>课题大纲:</strong></p>

<p>4.X射线光电子能谱仪(XPS)的基本原理和主要应用</p>

<p>5.俄歇电子能谱仪(AES)的基本原理和主要应用</p>

<p>6.飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的基本原理和主要应用</p>

<p> </p>

<p><strong>简介:</strong>针对先进材料表征技术方法中的表面成分分析技术进行了全面介绍,从X射线光电子能谱仪(XPS)、俄歇电子能谱仪(AES)、飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的基本原理和实际应用进行讲解,并列举案例深度分析,更为清晰的了解该技术。</p>
讲师介绍
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开课时间:2020-12-19 温馨提示:本课程可邀请老师到企业内部培训!
机构名称:深圳市威硕企业管理咨询有限公司 咨询电话:0755-26506757 33558698
课程地区:
联 系 人:李正华先生 彭静小姐 郑江波先生
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