电子产品实用可靠性设计和试验技术高级研修班

招生对象
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电子产品(组件及电子设备)制造行业的设计人员、可靠性试验评价、设计评审和故障分析人员。
课程内容
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课程大纲:
一. 常用的可靠性指标
1. 常用的可靠性指标
可靠度、不可靠度、瞬时失效率、保证寿命、平均寿命、特征寿命、中位寿命、平均修复时间、有效度。
2 概率与统计
①概率
②分布
③置信区间;
二. 可靠性模型基础
三. 可靠性预计和分配
1 GJB可靠性预计法
2 贝尔实验室可靠性预计法
3 广州地铁电源系统的可靠性模型和预计
四. 电子可靠性设计
1. 可靠性设计的思路
设计失败的案例
2. 某型计算机可靠性设计缺陷分析
3. 降额设计
4. 储备(冗余)设计
5. 潜在通路分析
案例1 潜在通路案例
2 潜在时间案例
3 潜在标志案例
4 潜在指示 地铁上紧急按钮的潜在指示
6. 电子产品热设计
6.1 温度对电子设备可靠性的影响
6.2 电子设备热的来源
6.3 热设计的目的
6.4 热设计的程序
6.5 热设计中元器件布局案例
6.6 热设计中元器件的安装原则
安装失误案例
6.7 鼓风机的选择与安装
6.8 冷却剂流道设计
6.9 改善热设计的方法及案例
案例
1 密封电子设备 案例
2 机载电子设备
7. 软件可靠设计技巧与管理
软件可靠设计案例
五. 元器件的常见的失效模式及预防对策
① 阻容元件常见的失效模式及预防对策案例②二极管三极管常见的失效模式及预防对策案例③机电元件常见的失效模式及预防对策案例④集成电路常见的失效模式及预防对策案例⑤防浪涌设计案例⑥防闩锁设计案例⑦ESD防护案例
六. 可靠性试验
1. 可靠性试验及其分类
2. 可靠性测定试验
点估计 区间估计
3. 可靠性鉴定试验
2.1 试验大纲
2.2 试验条件
2.3 试验样品
2.4 一次抽样检验方案的基本原理
2.5 案例分析
4. HALT/HASS试验
1) HALT和HASS的概念与应用范围
2) 高加速的基本原理
3) HALT/HASS试验过程及方法
4) 开展HALT和HASS的几点看法
5. 可靠性增长实验
6. 加速寿命实验
5.1 寿命试验的分类
5.2 寿命试验的测试点
5.3 寿命试验的数据处理
5.4 加速寿命试验的理论依据
5.5 加速应力的选择
5.6 样品数量的选择
5.7 激活能的计算
5.8 双应力加速实验法
7. 可靠性实验案例介绍
案例1 已知置信度和MTBF时的实验测定
案例2 已知置信度和可靠度时的实验测定
案例3 案例加速寿命实验测定法
案例4 可靠性鉴定实验
讲师介绍
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张老师
  曾在多家国际公司负责过产品可靠性设计及开发工作。中国某研究所可靠性处长,高级顾问,具有丰富的硬件设计经验。1994年 邀请加入中国最权威的可靠性试验室,从事电子产品测试、试验和可靠性技术研究等领域的学术带头工作。在此试验室一直从事电子元器件和设备的可靠性工作。负责了五个国家重点工程元器件的优选工作,开展电子设备可靠性预计、可靠性设计、可靠性分析等工作,主持了GJB/Z299《电子设备可靠性预计手册》关键技术研究,并相继发布了A、B版。编写了《可靠性建模与分配》,《可靠性预计技术》、《可靠性设计技术》、《故障模式、效应及危害性分析(FMECA)》、《故障树分析(FTA)》、《工程用元器件质量管理》等 有创新性的培训课题。通过国家颁发专业质量培训执教资格证书。是《电子产品可靠性与环境试验》编委会委员。
  丰富的产品设计经验和产品测试实践以及深厚的可靠性理论基础,为张老师开展产品可靠性研究提供了丰富的工程经验。曾为广州地铁二号线电源系统及科利公司完成可靠性、维修性设计建议书,为康佳、TCL、美的、科龙、电子36所、34所、54所、44所、26所进行过可靠性内训授课和咨询;为我国电子行业技术人员进行了几十次公开可靠性设计、可靠性预计、3F方法、元器件优选等方面的技术培训。
 
开课时间: 温馨提示:本课程可邀请老师到企业内部培训!
机构名称:深圳市威硕企业管理咨询有限公司 咨询电话:0755-26506757 33558698
课程地区:
联 系 人:李正华先生 彭静小姐 郑江波先生
浏览次数:
电子信箱:martin@ways.org.cn

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